Rupich M.W., Strickland N.M., Wimbush S.C., Long N.J., Kennedy J., Kluth P., Soman A.A., Notthoff C., Leveneur J.
Ogitsu T., Nishijima G., Awaji S., Sugano M., Hopkins S.C., Kawashima S., Ballarino A., Nakamoto M., Dhakarwal M.
Ключевые слова: transverse stress, compression, loads, microstructure, FCC, colliders, LTS, Nb3Sn, wires, design parameters, critical caracteristics, mechanical effects, strain effects
Ключевые слова: HTS, Bi2223, fabrication, electrochemical process, precursors, nanowires, nanoscaled effects, X-ray diffraction, microstructure, lattice parameter, critical temperature, pinning force, critical current density, magnetization curves, hysteresis, critical caracteristics, Jc/B curves, pinning mechanism
Puig T., Obradors X., Gutierrez J., Ricart S., Vlad V.R., Soler L., Farjas J., Mocuta C., Chamorro N., Jareсo J., Banchewski J., Rasi S., Pacheco A., Gupta K., Saltarelli L., Garcia D., Queralto A., Kethamkuzhi A.
Li M., Rupich M.W., Strickland N.M., Wimbush S.C., Long N.J., Knibbe R., Kluth P., Soman A.A., Notthoff C.
Ключевые слова: measurement technique, HTS, REBCO, coated conductors, critical caracteristics, current-voltage characteristics
Ключевые слова: HTS, REBCO, coated conductors, composition, doping, Raman spectroscopy, critical caracteristics, Jc/B curves, experimental results
Ключевые слова: chalcogenide, coated conductors, films, IBAD process, substrate Hastelloy, PLD process, buffer layers, X-ray diffraction, microstructure, resistive transition, critical temperature, upper critical fields, irreversibility fields, temperature dependence, critical caracteristics, Jc/B curves, pinning force
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.